?
局放儀
局部放電測試對測試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。具有靈敏度高、測試的試品，有高頻橢圓掃描，放電系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大，并采用的抗干擾組件和的門顯示電路，適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn)，新產(chǎn)品研制試驗(yàn)，電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測試，可供制造廠、科研部門、電力部門現(xiàn)場使用。
?
1．局部放電：局部放電是指導(dǎo)體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電，這種放電可以在導(dǎo)體附近發(fā)生，也可以不在導(dǎo)體附件發(fā)生。
2．視在電荷量q：在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷包量。
3．視在放電量校準(zhǔn)器：視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器與校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，是一個(gè)校準(zhǔn)電荷產(chǎn)生裝置。
???校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器產(chǎn)生規(guī)定波形的脈沖電壓，通過校準(zhǔn)電容對被試品注入電荷，模擬被試品局部放電時(shí)的視在放電電荷。
???校準(zhǔn)器的主要技術(shù)參數(shù)包括校準(zhǔn)脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、校準(zhǔn)脈沖峰值及校準(zhǔn)電容值。
???電壓波形上升時(shí)間為從0.1Uo到0.9Uo時(shí)間，衰減時(shí)間性定義為從峰值下降到0.1Uo的時(shí)間。
?三．技術(shù)參數(shù)
1．可測試品的電容范圍：6pF-250uF
2．檢測靈敏度及允許電流（見表1）。
3．橢圓掃描時(shí)基
（1）頻率：50、100、150、200、400Hz。
（2）旋轉(zhuǎn)：以30度為一檔，可旋轉(zhuǎn)120度。
（3）工作方式：標(biāo)準(zhǔn)-擴(kuò)展-直線。
（4）高頻時(shí)基橢圓可按輸入電壓（13-275V）調(diào)至正確大小。
4．顯示單元
采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚集調(diào)節(jié)旋鈕。
5．放大器
（1）3dB低頻端頻率fL：20、40kHz任選。
（2）3dB低頻端頻率fL：200、300kHz任選。
（3）增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)6檔，檔間增益差20±1dB。
（4）細(xì)調(diào)范圍 gt;20dB。
（5）正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對稱性 lt;1db lt;><1db lt;>
表1檢測靈敏度及輸入單元允許電流值
輸入單元序號(hào) | 調(diào)電容范圍 | 靈敏度（PC） （不平衡電路） | 允許電流有效值 | |
不平衡電路 | 平衡電路 | |||
1 | 6-25-100微微法 | 0.02 | 30毫安 | 0.25安 |
2 | 25-100-400微微法 | 0.04 | 60毫安 | 0.5安 |
3 | 100-400-1500微微法 | 0.06 | 120毫安 | 1安 |
4 | 400-1500-6000微微法 | 0.1 | 0.25安 | 2安 |
5 | 1500-6000-25000微微法 | 0.2 | 0.5安 | 4安 |
6 | 0.006-0.025-0.1微法 | 0.3 | 1安 | 8安 |
7 | 0.025-0.1-0.4微法 | 0.5 | 2安 | 15安 |
8 | 0.1-0.4-1.5微法 | 1 | 4安 | 30安 |
9 | 0.4-1.5-6.0微法 | 1.5 | 8安 | 60安 |
10 | 1.5-6.0-25微法 | 2.5 | 15安 | 120安 |
11 | 6.0-25-60微法 | 5 | 25安 | 200安 |
12 | 25-60-250微法 | 10 | 50安 | 300安 |
7R | 電阻 | 0.5 | 2安 | 15安 |
6．時(shí)間窗：（1）窗寬：可調(diào)，5度-150度（50Hz）。
（2）窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0度-170度。
（3）兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。
7．脈沖峰值表：（1）線性指示：0-100誤差不大于5%。
（2）對數(shù)指示：1-100誤差不大于5%。
8．具有輔助識(shí)別放電脈沖相應(yīng)的零標(biāo)志系統(tǒng)。??9．工作電流：220V±10%?工頻
10．體積：440×430×180mm。????????????????11．重量：約15Kg
?
