| 詳細參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 奧林巴斯 | 型號 | OmniScanX3 |
| 類型 | 相控陣探傷儀 | 電源 | 電池或交流電 |
| 加工定制 | 是 | 產地 | 美國 |
| 外形尺寸 | 250mm*150mm*38mm | 顏色 | 黑色 |
奧林巴斯OLYMPUS相控陣相控陣探傷儀探頭
典型相控陣探頭的頻率范圍在1 ?MHz到17 MHz之間，晶片數(shù)量在10個到128個之間。奧林巴斯提供各種使用壓電復合材料技術的探頭，適用于多種類型的檢測。這里說明奧林巴斯的標準相控陣探頭。這些探頭分為3種類型：角度聲束探頭、整合楔塊探頭，以及水浸式探頭。
還可以設計其他類型的探頭，以滿足您的應用需求。
線性陣列探頭是工業(yè)應用中常用的相控陣探頭。定義相控陣探頭的重要特征之一是激活的探頭孔徑。
定制的相控陣探頭和楔塊
為定制相控陣探頭和/或楔塊
相控陣探頭
焊縫系列探頭
焊縫檢測探頭的線纜會從其外殼的前面或頂部伸出，這樣就可以避免線纜纏繞到掃查器的探頭架。這些探頭適用于對焊縫進行的手動和自動檢測。A31和A32焊縫系列相控陣探頭和楔塊以其簡約的設計，不僅使焊縫檢測得到了簡化和標準化，而且還改進了信噪比。
優(yōu)勢特性
適用于焊縫檢測的優(yōu)化設計
領先的信噪比性能
寬泛的厚度測量范圍
新穎的楔塊概念，可改進與工件的耦合效果
在聲學上，可與Rexolite匹配
典型應用
A31和A32探頭
使用角度聲束對3毫米到60毫米厚的焊縫進行手動或自動檢測
提供用于橫波或縱波檢測的創(chuàng)新型楔塊設計
在被動軸上聚焦（PAF）的楔塊
這個已獲專利的聚焦楔塊系列在對管道周向上的環(huán)焊縫進行檢測時，有助于補償聲束在被動軸方向的發(fā)散現(xiàn)象。寬度較小的聲束可以對掃查軸方向上的較短的缺陷進行定量，從而有助于降低報廢率，并提供更清晰的圖像。
碳鋼
管道和平板
奧林巴斯用途廣泛的焊縫檢測解決方案采用多種技術對平板和外徑等于或大于4.5英寸的管道進行多產高效的檢測。相控陣、衍射時差以及常規(guī)超聲等技術在檢測過程中可被單獨使用，也可以組合在一起使用，以覆蓋整個焊縫，并獲得很高的檢出率。
這種解決方案還可以使用不同的掃查方式，獲得缺陷定位和定量的準確數(shù)據(jù)。掃查器具有優(yōu)質的穩(wěn)定性和編碼性能，不僅可使檢測符合規(guī)范的要求，還可獲得質量更好的檢測數(shù)據(jù)。在以手動、手動編碼、半自動或自動方式進行掃查并收集數(shù)據(jù)時，需使用不同的掃查器。
奧林巴斯的碳鋼焊縫檢測解決方案將奧林巴斯的采集設備、掃查器、探頭，以及根據(jù)用戶的需要量身定做的軟件結合在一起使用。這種解決方案可以進行缺陷的長度和深度定量，以根據(jù)規(guī)范做出接收/拒絕的判斷。
復合式掃查
一次單組復合式掃查所覆蓋的區(qū)域相當于兩個扇形掃查所覆蓋的區(qū)域奧林巴斯的NDT SetupBuilder更新版軟件提供了進行復合式聲束掃查的性能。這項創(chuàng)新型檢測策略將扇形聲束和線性聲束混合在一起，進行檢測，具有很多優(yōu)勢特性，例如：
更高的檢出率
檢測更厚的材料
更快的檢測速度
更短的設置和校準時間
更快的數(shù)據(jù)分析
焊縫系列PA探頭和楔塊
A31和A32相控陣探頭和楔塊具有獨特性能，可使檢測達到更高的水平。
改進了信噪比
符合人體工程學的設計
改進了耦合效果
可以進行復合式掃查
高溫檢測
如果用戶要求，我們可以提供一種與新款A31和A32相控陣探頭和奧林巴斯的Mini-Wheel（袖珍輪）編碼器相兼容的高溫楔塊選項。這種可選楔塊有助于對表面溫度高達150 ?C的工件進行檢測。
次軸聚焦（PAF）楔塊
已獲得專利權的奧林巴斯次軸聚焦楔塊系列產品有助于補償次軸方向上的聲束擴散問題，從而可以有效地進行管道環(huán)焊縫的檢測。較小的聲束寬度可以在掃查軸方向上定量較短的缺陷，從而有助于降低廢品率。此外，由于聲束能量的聚焦改進了信噪比（SNR），從而使缺陷圖像更加清晰。
用于檢測焊縫的雙晶陣列探頭
雙矩陣（DMA）探頭包含兩個與同一個連接器連線的矩陣探頭，具有使用發(fā)送-接收縱波（TRL）聲束進行檢測的能力。這類探頭在檢測帶堆焊層的管道或具有高衰減性的材料時，特別有用。
相控陣探頭的優(yōu)勢特性
具有在粒狀材料中發(fā)送和接收縱波的能力
增強了在不銹鋼材料中的穿透能力，其中包括奧氏體、耐腐蝕合金，以及異種材料焊縫
出色的信噪比
典型應用
A17、A25、A26和A27探頭
不銹鋼焊縫的應用
耐腐蝕合金（CRA）
不銹鋼
奧氏體材料
帶堆焊層的管材
異種材料焊縫
用于腐蝕檢測的雙晶陣列探頭
雙晶線性陣列探頭，在腐蝕檢測應用方面，為檢測人員提供了多種優(yōu)于常規(guī)超聲雙晶探頭的優(yōu)勢。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，以及具有更高數(shù)據(jù)點密度的C掃描成像功能，從而可提高檢測效率。
用于腐蝕檢測的雙晶線性陣列（DLA）探頭，與常規(guī)超聲雙晶探頭相比，具有更多優(yōu)勢特性。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，以及具有更高數(shù)據(jù)點密度的C掃描成像功能，從而可提高檢測效率。與標準相控陣脈沖回波相比，這種新探頭所采用的一發(fā)一收技術在腐蝕測量應用中可提供更好的近表面分辨率和點蝕探測能力，提高了臨界性壁厚減薄情況的檢出率。得益于其內置灌溉和可更好地貼附于管道弧面的可更換式延遲塊等新功能，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭現(xiàn)在可用于進行自動檢測。
探頭的優(yōu)勢和特性
可探測表面以下1毫米的缺陷
性價比較高的可更換式延遲塊
內置灌溉
高溫選項，可掃查熱表面
聲束覆蓋寬度高達30毫米
用途廣泛且調整迅速的系統(tǒng)，適用于直徑從4英寸到平面材料的檢測
堅固耐用的硬質合金防磨板，可保護楔塊
碳鋼材料典型的檢測深度范圍為1毫米到80毫米
USB存儲盤中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）
OmniScan軟件特性
側視圖、端視圖和俯視圖成像（B掃描、D掃描和C掃描）
完整的高分辨率A掃描存儲
兩個可配置的探測閘門
在OmniScan探傷儀或使用OmniPC軟件的計算機中進行離線分析
新特性，新潛能
雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭和OmniScan SX探傷儀的組合是一種經(jīng)濟實惠的檢測選項。這種解決方案設置方便，操作簡單：加載所提供的設置文件，核查校準情況，然后檢測并記錄數(shù)據(jù)。無需使用脈沖發(fā)生/接收（PR）儀器。無論是使用編碼器對某個區(qū)域進行手動掃查，還是使用MapROVER電動掃查器進行高速、全體積成像，雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭都可以在光滑的表面上快速輕松地完成C掃描成像操作。創(chuàng)新型探頭穩(wěn)定系統(tǒng)與可更換式弧面延遲塊和灌溉功能相結合，可在直徑小至4英寸的管材表面提供優(yōu)質的聲束傳播效果。我們還提供可檢測溫度高達150°C表面的雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭的高溫版本。
在自動檢測中與MapROVER掃查器一起使用的DLA腐蝕探頭。
雙晶陣列一發(fā)一收技術
與雙晶UT探頭一樣，雙晶線性陣列探頭包含一組發(fā)射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在以一定角度切割的延遲塊的兩部分上。這種配置生成在被測工件表面以下聚焦的聲束，從而可大幅降低表面反射的波幅。而且還提高了近表面分辨率，可獲得點蝕、蠕變損傷和HIC（氫致裂紋）等關鍵性缺陷的更高的檢出率。
HTHA探頭
在探測高溫氫致（HTHA）缺陷的應用中，這些優(yōu)化的雙晶線性陣列探頭和全聚焦方式（TFM）探頭可以提供更寬泛的掃查角度范圍和擴展的聚焦范圍，而且在使用較高的增益時，還可以提高信號響應的質量。
使用多技術探頭對高溫氫致缺陷（HTHA）進行有效的探測
覆蓋更多的焊縫區(qū)域和熱影響區(qū)（HAZ）— 角度聲束DLA探頭（A28）
1.高分辨率，10 MHz，32個小晶片，雙晶陣列
2.很高的聲束偏轉能力
3.其已獲專利的樞軸外殼可提供更長聚焦范圍，從而可獲得更高的檢出率（POD）
4.帶有屋頂角的系列楔塊可以在次軸方向上4毫米到95毫米的深度范圍內聚焦
快速高溫氫致（HTHA）缺陷掃查 — 零度DLA探頭（REX1）
1.10 MHz，64個晶片，雙晶陣列
2.聲束寬度覆蓋范圍高達30毫米
3.可以調節(jié)的穩(wěn)固和硬質合金防磨裝置，可以緊密地貼合在外徑小至101.6毫米的管道表面上
4.整合型楔塊可以覆蓋從4毫米到95毫米的厚度范圍
在與一個編碼器或掃查器配套使用時，可以提供清晰的C掃描圖像
早期高溫氫致（HTHA）缺陷的探測 — 經(jīng)過優(yōu)化用于探測高溫氫致（HTHA）缺陷的全聚焦方式（TFM）探頭（A31/A32）
1.包含多個更小的晶片，高頻率，在探測高溫氫致（HTHA）缺陷時，可以充分發(fā)揮全聚焦方式（TFM）檢測的潛力
手動接觸式探頭
奧林巴斯用于手動接觸式檢測的A24探頭系列擁有一個符合人體工程學要求的外殼設計，其薄膜可以更換，可以提供較大的正方形孔徑，因而可用于多種不同的應用。厚度為0.5毫米的薄膜更便于核查耦合情況，使探頭在粗糙的表面上順滑地移動，而且可以防止探頭受到磨損。
奧林巴斯的A24探頭系列用于手動接觸式檢測，采用符合人體工程學的外殼設計，其薄膜可以更換，提供較大的方形孔徑，可用于多種不同的應用。厚度為0.5毫米的薄膜使對耦合情況的核查更加簡單，使探頭在粗糙的表面上順滑地移動，還可防止探頭受到磨損。
探頭特性
A24 Atlas系列
使用壽命長：可更換的防磨面延長了探頭的使用壽命
用途廣泛：縱波0°檢測，掃頻+30°到 -30°
覆蓋很寬的厚度范圍：2.0 MHz和4.0 MHz探頭具有這個特性
熟悉的外殼樣式：采用相控陣技術的標準Atlas系列外殼
非常適用于以下檢測操作：
橋梁的銷釘和螺栓
鍛件
自動探測技術軟件
由VeriPhase提供的Automated Detection Technology（自動探測技術）軟件可以與OmniScan探傷儀配合使用，以快速處理編碼相控陣焊縫數(shù)據(jù)。
TomoView軟件
TomoView是一個基于PC機的性能強大、變通靈活的軟件，用于設計、數(shù)據(jù)采集、視圖顯示，及超聲信號的分析。
NDT SetupBuilder
NDT SetupBuilder是一個基于PC機的軟件，不僅可以創(chuàng)建檢測設置，還可以顯示聲束的模擬情況。這個軟件具有多個功能，可以快速方便地設計和配置復雜的檢測方案，而且這些檢測方案可以被直接導入到OmniScan MX2儀器中。
OmniPC軟件
OmniPC軟件是用于分析OmniScan數(shù)據(jù)的非常經(jīng)濟有效的選配項目。 軟件所提供的分析工具與OmniScan的機載軟件相同，而且更具靈活性，因為它可以在個人電腦中運行。
無損檢測解決方案請聯(lián)系我們
相控陣儀
OmniScan X3
OmniScan MX2
OmniScan SX
EPOCH 1000
OmniPC軟件
自動探測技術軟件
NDT SetupBuilder軟件
TomoView軟件
FOCUS PX / PC / SDK
PipeWIZARD
