S400是光柵漫反射型NIRS，高近紅外測(cè)光精度，可應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定，
主要用于對(duì)固體、粉末及顆粒狀、涂層等樣品化學(xué)、物理性質(zhì)作快速無損定性、定量分析。
技術(shù)參數(shù)：
1.波長(zhǎng)范圍：1300-2500nm
2.波長(zhǎng)重復(fù)性：≤1nm
3.掃描間隔： 4、8、16
4.吸光度重復(fù)性：≤
5.信噪比：≥103
6.顯示：800×600真彩LCD
7.接口：串行通信口
8.打印：標(biāo)準(zhǔn)噴墨打印
主要特點(diǎn)：
1.近紅外定性及定量分析軟件包，隨機(jī)提供外接手提電腦，可運(yùn)行Windows界面數(shù)據(jù)采集分析處理控制軟件，執(zhí)行單通道光譜掃描、自檢校正、機(jī)內(nèi)建模、檢驗(yàn)及轉(zhuǎn)移模型、樣品分析、多通道運(yùn)算、通道掃描曲線存儲(chǔ)/顯示比較/打印報(bào)告等功能；
2.日本原裝進(jìn)口pbs檢測(cè)器帶制冷，積分球反射率95%以上；
3.旋轉(zhuǎn)式樣品臺(tái)背景固定，樣品可全方位旋轉(zhuǎn)作多面測(cè)定，解決混合不均勻問題；
4.上置式樣品池，2種樣品池用于不同樣品；
5.掃描速度小于2min。
