每個(gè)產(chǎn)品的元器件都有一定的壽命周期，比如，PARKER MCT32F5A電子元器件的壽命為10年，那么，在這個(gè)壽命周期了，前三個(gè)月的故障率是很高的，其后故障率會(huì)越來越低，在三個(gè)月之后，達(dá)到穩(wěn)定，故障率就會(huì)降到一個(gè)比較低的水平，一直到10年左右，器件達(dá)到了壽命，故障率又開始上升。
生產(chǎn)制造過程中的老化，就是要通過高溫運(yùn)行，將產(chǎn)品前期的故障率較高的時(shí)間縮短，使產(chǎn)品在出廠前就跨越過這個(gè)階段，進(jìn)入低故障率階段。老化的溫度和時(shí)間與產(chǎn)品的不同種類有關(guān)，對(duì)于電子產(chǎn)品來說，如果設(shè)定在55~60度的溫度，可以將前期的高故障率的時(shí)間從三個(gè)月縮短到三天左右。這就是為什么許多電子產(chǎn)品的老化時(shí)間在72小時(shí)的原因。因此，老化是PLC產(chǎn)品生產(chǎn)過程的一道重要工序，而不能僅僅被看作是一個(gè)測(cè)試的過程。PARKER MCT32F5A
知道了上面的道理，就同樣會(huì)明白產(chǎn)品的老化過程是十分重要的，而且，老化后的測(cè)試更加重要。因?yàn)椋菀壮霈F(xiàn)故障的模塊，在老化過程中，絕大部分的潛在故障會(huì)在老化期間暴露出來，PARKER MCT32F5A因此，必須對(duì)老化后的產(chǎn)品進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試。測(cè)試的方法和手段與老化前的模塊測(cè)試手段相似，但必須全部完整地檢測(cè)。有些測(cè)試人員認(rèn)為產(chǎn)品已經(jīng)測(cè)過一次了，因此，對(duì)老化后的產(chǎn)品測(cè)試往往放松，其實(shí)，這是大錯(cuò)而特錯(cuò)的。老化后的測(cè)試，就是PLC在制造過程中測(cè)試的第四步。
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