EL140S-M EL缺陷檢測儀
適用于電池片和組件，可檢測缺陷包括：
■裂片
■微隱裂
■破洞
■斷柵
■短路
■印刷不良
■工藝污染等缺陷。
■ 超大靶面CCD，靶面尺寸達(dá)到15 ×25mm，是普通CCD靶面的6倍 ■鏡頭尺寸達(dá)到∮52mm,是普通工業(yè)鏡頭進(jìn)光面積的5-8倍
■ 超低制冷溫度，最低可達(dá)-50 ℃，完全消除背景噪聲
■積分式低制冷型紅外增強(qiáng)CCD，950nm紅外光透過率達(dá)到97%
■非魚眼型鏡頭，避免了魚眼鏡頭產(chǎn)生的圖像扭曲、圖像變形、邊緣陰暗等缺陷，消除了此項(xiàng)重要誤差
■ 功能強(qiáng)大的軟件，品質(zhì)可靠的硬件，確保產(chǎn)線無故障生產(chǎn)運(yùn)行。
■ 操作簡便，功能齊備，確保儀器全面解決各種缺陷檢測
■ 儀器細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)完美，消除人為誤操作因素
■ 強(qiáng)大的軟件功能，實(shí)現(xiàn)自動判別缺陷，自動報(bào)警，不合格圖像單獨(dú)存儲
■人工判別與自動判別相結(jié)合，可找出組件細(xì)微缺陷，實(shí)現(xiàn)全方位檢測。
■全自動檢測---與產(chǎn)線結(jié)合，自動進(jìn)樣、自動定位、自動加電、自動檢測、自動存儲、自動檢測、自動出樣回歸產(chǎn)線。實(shí)現(xiàn)組件無任何人工操作，避免人為損壞組件。
■鼠標(biāo)隨動顯示，任意指向目標(biāo)位置，操作快速簡便
■最大檢測尺寸可達(dá) 2200mm×1200mm
■成像時(shí)間：0 ~ 5000毫秒 可調(diào)節(jié)
■圖像有效像素：不小于1200萬像素
■CCD制冷溫度：達(dá)到-50°C
■CCD靶面尺寸：不小于25 mm × 15 mm
■鏡頭尺寸：大尺寸進(jìn)光鏡頭，鏡頭直徑不小于∮52mm
■可選配：光強(qiáng)度分布分析檢測系統(tǒng)可以三維圖像方式，直觀、精確地生成各部分發(fā)光強(qiáng)度分布圖，并標(biāo)出光強(qiáng)精確數(shù)值。對各部分發(fā)電效率一目了然。
公司名稱：武漢三工光電設(shè)備制造有限公司
公司地址：湖北武漢東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)武漢大學(xué)科技園武大園四路
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