跌落試驗(yàn)通常是主要用來(lái)模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶(hù)測(cè)試規(guī)范來(lái)決定）。
對(duì)于不同國(guó)際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī), MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿(mǎn)足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Inb對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。
參考標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落
IEC60068-2-32電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落
GB/T4857.5包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法
深圳市賽特檢測(cè)有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)STT）是國(guó)內(nèi)較早開(kāi)展環(huán)境可靠性工程檢測(cè)技術(shù)的研究與應(yīng)用的專(zhuān)業(yè)第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)，經(jīng)過(guò)十?dāng)?shù)年的發(fā)展，已成為集環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、包裝運(yùn)輸測(cè)試、材料測(cè)試、電磁兼容測(cè)試、安規(guī)、失效分析、理化檢測(cè)等項(xiàng)目為一體的綜合性檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。現(xiàn)有規(guī)模、測(cè)試能力和水平處于國(guó)內(nèi)檢測(cè)機(jī)構(gòu)的領(lǐng)先水平，并培養(yǎng)出一批高素質(zhì)檢測(cè)工程師人員，積累了豐富的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)。
