長(zhǎng)焦紅外物鏡M PLAN APO10XNIR50X/20X/100X
長(zhǎng)焦紅外物鏡M PLAN APO10XNIR50X/20X/100X
一、M plan 95mm 長(zhǎng)工作距離可見光通過(guò)物鏡：
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名 稱
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95mm長(zhǎng)工作距離可見光通過(guò)物鏡
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目鏡
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||||||
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數(shù)值孔徑
|
工作距離
|
焦距
|
分辨率
|
物理
焦深/景深 |
物方視場(chǎng)
|
攝像頭
|
焦點(diǎn)深度 | |
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N.A.
|
W.D.
|
f
|
R（μm）
|
±Δp（μΜ）
|
（WF10/24）
|
1/2" CCD
|
±Δ（μΜ）
|
|
|
M Plan Apo HL 2X
|
0.055
|
34.6
|
100
|
5
|
91
|
?12
|
2.4*3.2
|
221
|
|
M Plan Apo HL 5X
|
0.14
|
45
|
40
|
2
|
14
|
?4.8
|
0.96*1.28
|
34.4
|
|
M Plan Apo L 10X
|
0.28
|
34
|
20
|
1
|
3.5
|
?2.4
|
0.48*0.64
|
8.6
|
|
M Plan Apo HL 20X
|
0.29
|
31
|
10
|
1
|
3.3
|
?1.2
|
0.24*0.32
|
5.8
|
|
M Plan Apo HL 50X
|
0.42
|
20.5
|
4
|
0.7
|
1.6
|
?0.48
|
0.10*0.13
|
2.3
|
|
M Plan Apo HL 100X
|
0.55
|
12.5
|
2
|
0.61
|
0.9
|
|
|
1.82
|
二、M plan 95mm 長(zhǎng)工作距離紫外光通過(guò)物鏡（NUV物鏡）：
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名稱
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95mm長(zhǎng)工作距離紫外光通過(guò)物鏡（NUV物鏡 ）
|
||||||||
|
NA
|
WD
|
焦距f’（m）
|
分辨率R（μm）
|
焦深±Δp（μm）
|
視野（mm）
φ24接眼 |
視野（mm）CCD
|
透過(guò)率
|
激發(fā)波
|
|
|
NUV50X
|
0.43
|
14.81
|
4
|
0.64
|
1.49
|
Φ0.48
|
0.1x0.13
|
450nm~700nm70%以上345nm~365nm90%以上
|
波長(zhǎng)355nm消色
|
|
NUV20X
|
0.4
|
17.15
|
10
|
0.69
|
1.72
|
Φ1.2
|
0.24x0.32
|
450nm~700nm70%以上345nm~365nm90%以上
|
波長(zhǎng)355nm消色
|
|
NUV50X
|
0.7
|
3.5
|
4
|
0.39
|
0.56
|
Φ0.48
|
0.1x0.13
|
450nm~700nm70%以上345nm~365nm90%以上
|
波長(zhǎng)355nm消色
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三、M plan 95mm 長(zhǎng)工作距離紅外光通過(guò)物鏡（NIR物鏡）：
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名稱
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M plan 95mm 長(zhǎng)工作距離紅外光通過(guò)物鏡（NIR物鏡）
|
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||||||||
|
NA
|
工作距離（WD）
|
焦距f’（m）
|
分辨率R（μm）
|
焦深
±Δp（μΜ） |
視野（mm）φ24接眼
|
視野（mm）
CCD |
透過(guò)率
|
備注
|
||
|
20X
|
0.45
|
17.4
|
10
|
0.61
|
1.36
|
Φ1.2
|
0.24x0.32
|
450nm~700nm
70%以上，
770nm~790nm
90%以上
|
激光波長(zhǎng)780nm消色
|
|
|
50X
|
0.8
|
4.04
|
4
|
0.34
|
0.43
|
Φ0.48
|
0.1x0.13
|
450nm~700nm
70%以上，
770nm~790nm
90%以上
|
激光波長(zhǎng)780nm消色
|
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1.以上物鏡均為無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，復(fù)消色差平場(chǎng)物鏡。中間鏡筒f'=200mm。
2.以上物鏡的齊焦距離均為95mm。
3.以上物鏡的連接螺紋均為M26x0.706 （M26x1/36"）, 但可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制 或通過(guò)轉(zhuǎn)接環(huán)連接。
4.以上物鏡的“HL”標(biāo)識(shí)為超長(zhǎng)工作距離。
5.以上長(zhǎng)工作距離物鏡配接視頻單筒連續(xù)變倍體視顯微鏡或工業(yè)檢測(cè)顯微鏡， 廣泛應(yīng)用于各種相檢 測(cè) ，如電子行業(yè)的導(dǎo)電粒子、IC集成電路的微分子、晶圓體等的檢測(cè)。
三豐紅外物鏡M PLAN APO10XNIR50X/20X/100X
